beat365各位教師、同學(xué)：
為了讓全院師生更好地掌握掃描電鏡使用方法，中心定于2020年11月11日開展操作培訓(xùn)。特此通知，由于場地狹小，僅能容納最多約5人，建議每個(gè)課題組安排一名人員參加培訓(xùn)，僅限老師及博士后或博士生參加。請電話中心預(yù)約報(bào)名，位置先到先得。針對名額緊張的問題，中心隨后將針對該設(shè)備進(jìn)行多次培訓(xùn)。
時(shí)間：2020年11月11日星期三9:20-12:00
地點(diǎn)：江安校區(qū)第一基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)樓B334電鏡室
內(nèi)容：掃描電鏡應(yīng)用&上機(jī)操作
培訓(xùn)人：劉長軍老師
報(bào)名電話：15756250828（黃老師）
beat365工程實(shí)驗(yàn)教學(xué)中心
2020年11月9日
附：主要技術(shù)指標(biāo)
l超高的分辨圖像的觀察，最大放大倍數(shù)1百萬倍
在低加速電壓下仍保持極高的分辨率，特別適合納米材料表面細(xì)節(jié)觀察和不導(dǎo)電樣品觀察，分辨率指標(biāo)如下：
1.0nm (二次電子,加速電壓：15kV)
1.3nm (二次電子,加速電壓：1kV)
1.5nm (背散射電子.加速電壓：1kV)
l五軸馬達(dá)樣品臺標(biāo)準(zhǔn)控制
l標(biāo)配可擴(kuò)展真空轉(zhuǎn)移裝置接口
l標(biāo)配GB模式
l能量過濾器：可以按任意比例混合二次電子和背散射電子圖像
l圓錐型熱場發(fā)射電子槍：電子束虛漂移小，改變加速電壓無需手動(dòng)調(diào)節(jié)虛漂移點(diǎn)。
