beat365各位教師、同學：
為了更好為全院師生科研服務，中心即將開始掃描電鏡與透射電鏡的測試服務，定于2021年4月7日開展掃描電鏡和透射電鏡的制樣與送樣培訓。建議每個課題組安排1~2名人員參加培訓，碩博士均可參加。請以課題組為單位，將姓名、學號、電話、課題組負責人及所屬學院的信息編輯成Excel發(fā)送至442782851@qq.com。
時間：2021年4月7日星期三10:00-11:00
地點：江安校區(qū)卓越工程師訓練中心一樓報告廳
內容：掃描電鏡和透射電鏡的制樣與送樣培訓
培訓人：黃艷萍老師
beat365工程實驗教學中心
2021年3月30日
附：主要技術指標
JSM-7610F掃描電鏡：
超高的分辨圖像的觀察，最大放大倍數(shù)1百萬倍
在低加速電壓下仍保持極高的分辨率，特別適合納米材料表面細節(jié)觀察和不導電樣品觀察，分辨率指標如下：
1.0nm (二次電子,加速電壓：15kV)
1.3nm (二次電子,加速電壓：1kV)
1.5nm (背散射電子.加速電壓：1kV)
五軸馬達樣品臺標準控制
標配可擴展真空轉移裝置接口
標配GB模式
能量過濾器：可以按任意比例混合二次電子和背散射電子圖像
圓錐型熱場發(fā)射電子槍：電子束虛漂移小，改變加速電壓無需手動調節(jié)虛漂移點。
JEM-F200透射電鏡：
加速電壓：20 KV-200 KV
TEM放大倍率：20-2.0 M
STEM放大倍率：200-150 M
線分辨率：≤0.1 nm@200 KV；≤ 0.14 nm@80KV
點分辨率：≤0.19 nm@200KV
背散射電子分辨率：≤1.0 nm@200KV
STEM BF/DF分辨率：≤0.16 nm@200KV
信息分辨率：≤0.12 nm@200KV
能量分辨率：優(yōu)于130 eV
元素分析范圍：4B至92U
