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生產(chǎn)廠家:日本日本電子株式會社 型號：JEM-F200

主要性能指標：加速電壓：20 KV-200 KV

TEM放大倍率：?20-2.0 M

STEM放大倍率：?200-150 M

背散射電子分辨率：≤1.0 nm@200KV

STEM BF/DF分辨率：≤0.16 nm@200KV

能量分辨率： 優(yōu)于130 eV 元素分析范圍：4B至92U

服務領域：對材料的微觀結構、元素成分、化學價態(tài)進行觀測表征和定量分析

樣品要求：

樣品不含磁性，一般應為厚度小于100nm的固體；樣品在電鏡電磁場作用下不會被吸出，附于極靴上；樣品在高真空中能保持穩(wěn)定；不含有水分或其它易揮發(fā)物，含有水分或其他易揮發(fā)物的試樣應先烘干

設備管理員：黃艷萍 聯(lián)系電話：028-85850992，15756250828