生產(chǎn)廠家:日本日本電子株式會(huì)社 型號(hào)：JSM-7610F
主要性能指標(biāo)：二次電子像分辨率:0.8 nm（加速電壓15 kV），1.0 nm（加速電壓1 kV）分析時(shí)3.0 nm (加速電壓15 kV, WD 8 mm,探針電流5nA)
加速電壓:0.1～30 kV，放大倍數(shù)：25~1,000,000倍
能譜：有效面積10mm2,元素分析范圍: Be4～Pu94
服務(wù)領(lǐng)域：
1）觀察高分辨的微觀結(jié)構(gòu)與形貌；
2）能譜用于材料的微區(qū)成分定性、定量分析
樣品要求：
試樣可以是塊狀或粉末顆粒，在真空中能保持穩(wěn)定;樣品表面要處理干凈；在高真空狀態(tài)觀察，樣品應(yīng)干燥，不含水分、溶劑油脂等揮發(fā)物；保護(hù)樣品觀察表面不受損傷和污染；樣品的大小應(yīng)適合在樣品臺(tái)上放置及移動(dòng)，較大的樣品需進(jìn)行切割，確定好取樣部位；不含磁性。
設(shè)備管理員：黃艷萍 聯(lián)系電話：028-85850992，15756250828
